Физика. Чертов А.Г. Элементы кристаллографии.

В данной главе представлены задачи по физике из раздела Элементы кристаллографии задачника Чертова А.Г. Воробьева А.А.

49.3 Найти плотность ρ кристалла неона (при 20 К), если известно, что решетка гранецентрированная кубической сингонии. Постоянная a решетки при той же температуре равна 0,452 нм.

49.5 Определить относительную атомную массу A

49.9 Вычислить постоянную a решетки кристалла бериллия, который представляет собой гексагональную структуру с плотной упаковкой. Параметр a решетки равен 0,359 нм. Плотность ρ кристалла бериллия равна 1,82*10

49.10 Найти плотность ρ кристалла гелия (при температуре T=2 К), который представляет собой гексагональную структуру с плотной упаковкой. Постоянная a решетки, определенная при той же температуре, равна 0,357 нм.

49.15 Вычислить период l идентичности вдоль прямой [111] в решетке кристалла NaCl, если плотность ρ кристалла равна 2,17*10

49.19 Система плоскостей в примитивной кубической решетке задана индексами Миллера (221). Найти наименьшие отрезки, отсекаемые плоскостью на осях координат, и изобразить эту плоскость графически.

49.25 Вычислить угол φ между нормалями к плоскостям (в кубической решетке), заданных индексами Миллера (111) и (11